Лекция 17Слайд 1 Темы лекции 1.Принцип действия просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ). 2.Схема ПЭМ. - презентация

1 Лекция 17Слайд 1 Темы лекции 1.Принцип действия просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ). 2.Схема ПЭМ.

2 Лекция 17Слайд 2 Принцип действия просвечивающего электронного микроскопа основан на взаимодействии пучка электронов (зонда) с энергией кэВ с исследуемым образцом. Так как в просвечивающей электронной микроскопии изображение формируется электронами, прошедшими через образец, то его толщина должна быть меньше длины пробега электронов в материале образца. Для получения подобных толщин исследуемые образцы, как правило, имеющие много большую толщину, предварительно утоняются с помощью электрохимического или ионного травления.

3 Лекция 17Слайд 3 Все ПЭМ могут работать в двух режимах: в режиме изображения в режиме дифракции. Ход лучей в этих режимах: а – режим изображения; б – режим микродифракции.

4 Лекция 17Слайд 4 Электронный пучок формируется в ускорительной колонне 1, состоящей из электронной пушки, секционной ускорительной трубки (обычно 6 секций) системы отклонения. Энергия электронов на выходе ускорительной колонны, определяется величиной ускоряющего напряжения на электронной пушке и в различных типах ПЭМ может меняться в пределах кэВ. Чем больше энергия электронов, тем меньше длина волны, тем больше проникающая способность электронов.

5 Лекция 17Слайд 5 После ускорительной колонны установлена система конденсорных линз 2, назначение которой получить электронный пучок с минимальным угловым расхождением. Ускорительная колонна совместно с системой конденсорных линз позволяет получать электронные пучки разного диаметра. Минимальный диаметр электронного пучка в ПЭМ может составлять несколько нанометров, что позволяет получать дифракцию от локальной области такого же диаметра в режиме микролучевой дифракции. При работе в режиме изображений при помощи системы конденсорных линз получают параллельный пучок электронов. Система отклонения предназначена для электронного наклона пучка в режиме изображения и дифракции. Ускорительная колонна и система конденсорных линз образуют осветитель.

6 Лекция 17Слайд 6 За системой конденсорных линз расположена объективная линза. Держатель с образцом 3 устанавливается в зазор полюсного наконечника объективной линзы, так чтобы образец находился в предполье объективной линзы. Гониометрическая головка позволяет осуществлять поворот образца относительно электронного пучка на угол ± 12º. Так как в просвечивающей электронной микроскопии изображение формируется электронами, прошедшими через образец, то его толщина должна быть много меньше длины пробега электронов в материале образца.

7 Лекция 17Слайд 7 Пройдя через образец, электроны попадают в объективную линзу 4. Данная короткофокусная (несколько мм) линза, имеющая небольшое увеличение (~ 50), является ключевой в дальнейшем формировании изображения, поэтому она снабжена корректором астигматизма – стигматором. Диафрагма объективной линзы расположена на задней фокальной плоскости объективной линзы. В последних моделях микроскопов изображения выводятся на монитор компьютера при помощи цифровых ПЗС камер.

8 Лекция 17Слайд 8 В ПЭМ используются электромагнитные линзы, которые состоят из обмотки, магнитопровода и полюсного наконечника. Полюсный наконечник является концентратором магнитного поля и имеет форму круговой симметрии. В центре имеется отверстие с некоторым радиусом и зазор между полюсами. В результате такой конструкции полюсного наконечника, магнитный поток сжимается в зазоре. Электроны, проходя через объективную линзу, под действием магнитного поля отклоняются в направлении оптической оси и фокусируются в определенной точке оптической оси (в фокусе линзы).

9 Лекция 17Слайд 9 Стандартная вакуумная система ПЭМ Вакуум создается форвакуумным насосом роторного типа (РН) диффузионными насосами (ДН). Давление контролируется тепловыми датчиками низкого вакуума (Р1-Р4) и ионизационным датчиком высокого вакуума (РЕ). В вакуумной системе применены электромагнитные и пневматические клапана (обозначены V). Вакуумная система должна обеспечить давление в колонне микроскопа не хуже Тор.

10 Лекция 17 Слайд 10 Формирование электронно-микро-скопического изображения коротко можно описать следующим образом. Электронный пучок, сформированный осветительной системой, падает на объект и рассеивается. Далее, рассеянная волна объективной линзой преобразуется в изображение. Образованное объективной линзой изображение увеличивается промежуточными линзами и проецируется проекционной линзой либо на экран для наблюдения, либо на фотопластины или выводится на дисплей монитора.

11 Лекция 17 Слайд 11 Проходя через образец, 0 взаимодействует с потенциалом объекта. Электронная волна на нижней поверхности образца имеет вид q 0, где q- функция прохождения. Рассеяние, дифракция волны q 0 описывается действием оператора Фурье F. Следовательно, на задней фокальной плоскости объективной линзы электронная волна имеет вид Fq 0, которая модифицируется передаточной функцией Т объективной линзы. Преобразование рассеянной волны в волновую функцию изображения описывается оператором обратного преобразования Фурье F -1. Тогда распределение интенсивности электронов на экране будет равняться I = и и *.

12 Лекция 17 Слайд 12 Механизм формирования контраста в электронной линзе такой же, как при формировании контраста в геометрической оптике с оптическими линзами. Диафрагма объективной линзы установлена так, что она пропускает только центральный пучок, а отраженные электроны не достигают конечного изображения. Изображение будет сформировано из центрального пучка и электронов, неупруго рассеянных под малыми углами. Изображение является однолучевым и в этом случае называется светлопольным.

13 Лекция 17 Слайд 13 Полученный контраст обусловлен распределением интенсивности электронов, отраженных по закону Вульфа-Брэгга и поэтому получил название дифракционный контраст. При пропускании через диафрагму двух и более пучков (в том числе и центральный пучок), получаем многолучевое светлопольное изображение. На таких изображениях преобладает фазовый контраст. Изображения можно получить, пропуская через диафрагму объективной линзы только дифрагированные пучки. Тогда полученные изображения называются темнопольными и они так же бывают однолучевыми и многолучевыми.

14 Лекция 17 Слайд 14 На просвечивающие электронные микроскопы могут устанавливаться различные приставки-анализаторы. В этом случае электронный микроскоп называют аналитическим, и он обладает такими же возможностями, что и другие аналитические устройства. Установка на ПЭМ рентгеновского энергодисперсионного анализатора позволяет определить элементный состав, а в сочетании со сканирующей приставкой – элементное картирование по площади с привязкой к структуре образца. Другим устройством для определения элементного состава, устанавливаемым на микроскопах, является анализатор потери энергии электронов.