Техника изотопного анализа Юрий Александрович Костицын yuri.kostitsyn@gmail.com МГУ им. М. В. Ломоносова Геологический факультет Задачи (*.xlsx) и лекции. - презентация

1 Техника изотопного анализа Юрий Александрович Костицын МГУ им. М. В. Ломоносова Геологический факультет Задачи (*.xlsx) и лекции (*.pptx) – на сайте Геохимия_Изотопов_и_Геохронология

2 Основные системы масс-спектрометров и их назначение Получение ионов (источник) Получение ионов (источник) НагревНагрев Бомбардировка частицами (электронами, протонами, нейтронами, ионами)Бомбардировка частицами (электронами, протонами, нейтронами, ионами) Разделение ионов по массам (анализатор) Разделение ионов по массам (анализатор) В магнитном полеВ магнитном поле В электрическом полеВ электрическом поле Во времениВо времени Измерение ионных токов (система регистрации) Измерение ионных токов (система регистрации) ОдноколлекторныеОдноколлекторные МногоколлекторныеМногоколлекторные

3 Источники ионов Термо-ионизационный (твердофазный). Rb-Sr, Sm-Nd, U-Th-Pb, Lu-Hf, Re-Os, Hf-W Термо-ионизационный (твердофазный). Rb-Sr, Sm-Nd, U-Th-Pb, Lu-Hf, Re-Os, Hf-W Одно-, двух- и трёхленточныеОдно-, двух- и трёхленточные Позволяет получать положительные и отрицательные ионыПозволяет получать положительные и отрицательные ионы Позволяет получать ионы отдельных атомов и соединений (напр., окислы)Позволяет получать ионы отдельных атомов и соединений (напр., окислы) Препарат Испаритель Ионизатор

4 Источники с ударной ионизацией Электронный удар. O, C, S, N, He, Ne, Ar, Kr, Xe. Электронный удар. O, C, S, N, He, Ne, Ar, Kr, Xe. Ионный (O 2 -, Ar +, Cs + ) удар. U-Pb в цирконах. Ионный (O 2 -, Ar +, Cs + ) удар. U-Pb в цирконах.

5 Источник с индуктивно- связанной плазмой (ИСП) или ICP – inductively coupled plasma. Широкий круг элементов. Анализ растворов, аэрозолей (лазерная абляция) Источник с индуктивно- связанной плазмой (ИСП) или ICP – inductively coupled plasma. Широкий круг элементов. Анализ растворов, аэрозолей (лазерная абляция)

6 Анализаторы Квадрупольные Квадрупольные Положительно заряженные частицы Электрическое поле

7 Времяпролётные, TOF – time of flight Времяпролётные, TOF – time of flight V – скорость иона Заряженная частица массой m и зарядом e в электрическом поле напряжённостью U приобретает энергию E: Ионы разной массы приобретают разную скорость и попадают на коллектор в разное время:

8 Секторный магнит Секторный магнит

9 Система регистрации ионных токов Цилиндр (чашка) Фарадея Токи порядка 10 –13 ÷ 10 –10 А

10 Система регистрации частиц (счёта ионов) Непрерывный динодный умножитель или (одно)канальный электронный умножитель или (single)channel electronic multiplier (CEM) или Channeltron Channeltron Вторично-электронный умножитель (ВЭУ) 10 –13 А Токи

11 Микроканальная пластина или Micro-channel plate (MCP) Набор тонких (~6-10 мкм) микроканалов, расположенных с интервалом ~15 мкм. Используются также двуслойные (chevron MCP) и трёхслойные (Z-stack MCP) с общим усилением более 10 7.

12 Коммерческие масс-спектрометры ИсточникАнализатор Система регистрации Примеры Ионный удар Секторный магнит Мульти- коллекторная Ионные зонды: SHRIMP, Cameca-1280 Твердофазный, термо- ионизационный TIMS: Triton, MAT-262, Sector-54 Газовый с электронным ударом Газовые: MAT-253, ARGUS, Noblesse ICP-MS MC-ICP-MS: Neptune, Nu Plasma, Isoprobe, Axiom квадрупольный, времяпролётный или секторный магнит Одно-коллекторнаяICP-MS: Element, Agilent, Plasmaquad, Elan, LECO Renaissance, GBC OptiMass

13 Delta Plus

14 Triton

15 Neptune

16 ICP-MS с высоким разрешением: Element-2/XR, Neptune, Nu Plasma 1700

17 Element-XR Высокое разрешение

18

19 Ионно-ионные масс-спектрометры (SIMS, SHRIMP, ion microprobe) SHRIMP (Sensitive High Resolution Ion Micro- Probe ) SHRIMP (Sensitive High Resolution Ion Micro- Probe ) Cameca-1270 / 1280 Cameca-1270 / 1280

20 SIMS Cameca-1280

21

22 SHRIMP или LA-ICP-MS ?

23 Подготовка вещества к изотопному анализу

24 Кислород в силикатах и окислах (классическая схема) Clayton, Mayeda, 1963

25 Кислород в силикатах и окислах (лазерное фторирование) Sharp, 1990

26 Камера для фторирования лазером Sharp, 1990

27 Разделение элементов для твердофазного изотопного анализа