РОЛЬ ВЫСШИХ ПОРЯДКОВ ОТРАЖЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛИНИЙ ПРИ РЕГИСТРАЦИИ НА ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВЫХ МИКРОАНАЛИЗАТОРАХ Лаврентьев Ю.Г., Королюк В.Н., Нигматулина. - презентация

1 РОЛЬ ВЫСШИХ ПОРЯДКОВ ОТРАЖЕНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛИНИЙ ПРИ РЕГИСТРАЦИИ НА ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВЫХ МИКРОАНАЛИЗАТОРАХ Лаврентьев Ю.Г., Королюк В.Н., Нигматулина Е.Н., Карманов Н.С.

2 Примеры наложения линий Аналитическая линия, кристалл-анализатор Налагающаяся линия и порядок отражения Na K TAPBa 7 V Al K TAPBa L 1,2 III Si K TAPCo K 1,2 IV P K PETCa K 1,3 II

3 Относительная интенсивность линий в разных порядках отражения Кристалл- анализатор Индексы рабочих плоскостей 2d, Å Порядок отражения, % IIIIIIIVVVIVIIVIII LiF ––––– PET ––– TAP LDE ––––– LDE ––––––

4 Выводы Интенсивность рефлексов разных порядков отражения зависит от конструкции и текущего технического состояния спектрометра. Индивидуальные свойства кристалл- анализаторов влияют на соотношение интенсивностей в разных порядках отражения.