Скачать презентацию
Идет загрузка презентации. Пожалуйста, подождите
Презентация была опубликована 11 лет назад пользователемМарианна Талагаева
1 Лекционный курс «Физические основы измерений» Раздел МЕТОДЫ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ Тема СКАНИРУЮЩИЕ (растровые) МИКРОСКОПЫ (3)
2 Атомно – силовой микроскоп
3 Потенциальная энергия взаимодействия атомов Отталкивание атомов Притяжение атомов Атомно – силовой микроскоп
4 Сходство с механическим профилометром Оптическая система измеряет отклонения зонда, сканирующего поверхность Между атомами зонда и образца действуют силы – Н (при зазоре 1 Å ). Атомно-силовой микроскоп
5 Зонд атомно – силового микроскопа из углеродных нанотрубок
6 Блок-схема атомно-силового микроскопа
7 Обнаружение отдельных частей молекул в атомно-силовом микроскопе Позолоченный зонд подвергают химической обработке СХЕМА ЭКСПЕРИМЕНТА Молекулы на зонде взаимодействуют с отдельными частями молекул на образце
8 Изображение в АСМ без химической обработки зонда На зонде – фрагменты –COOH На зонде – фрагменты –CH 3
9 Сборка молекул из отдельных деталей Эта молекула, из 18 атомов цезия и 18 атомов йода была собрана путем последовательного присоединения отдельных атомов в атомно-силовом микроскопе
Еще похожие презентации в нашем архиве:
© 2024 MyShared Inc.
All rights reserved.