Современный рентгеновский анализ в геологии 2012 1. - презентация

1 Современный рентгеновский анализ в геологии

2 Целью компании было разработка, производство и продажи научного и аналитического оборудования Bruker Physik AG: Основана в 1960 в Карлсруе (Германия) профессором Гюнтером Лаукеном Who is Bruker? 2

3 Bruker Наши офисы и представительства Головные офисы компании Сервисные центы Сервисно-методическая поддержка, продажи

4 Компания Bruker Bruker BioSpin Bruker Daltonics Bruker AXS Bruker Optics 4

5 Bruker AXS Рентгеновская спектрометрия и дифрактометрия Оптико-эмиссионная спектрометрия CS/ONH – анализ Атомно-силовая микроскопия Профилометрия и оптическая метрология Трибология

6 широкий диапазон концентрации: от миллионных долей (ppm) до 100 % высокая точность до 0.1 % отн. экспрессность: время анализа до 1 мин минимальная пробоподготовка минимальная трудоемкость анализ без использования стандартных образцов Рентгенофлуоресцентный анализ все материалы: жидкости, металлы, порошки, газы (на фильтрах) все элементы: от Be(4) до U(92) 6

7 Определение элементного состава геологических проб 7 Элементный анализ Волно-дисперсионный WDX Волно-дисперсионный WDX Энерго-дисперсионный ЕDX Энерго-дисперсионный ЕDX Последовательный Sequential S8 Tiger Последовательный Sequential S8 Tiger Параллельный Simultaneously S8 Lion S8 Dragon Параллельный Simultaneously S8 Lion S8 Dragon Ручные - S1 Настольные - S2 M1-M4 Настольные - S2 M1-M4

8 Элементный анализ Рентгенофлуоресцентные спектрометры S8 TIGER S8 TIGER ((( TRACERturbo-SD Ручной РФА S2 RANGER QUANTAX РФА на микроскопе S2 PICOFOX TXRF S8 LION 8

9 С автоматической загрузкой С ручной загрузкой S2 RANGER Энергодисперcионный спектрометр Компактный и простой в управлении прибор – анализ одним касанием Большой магазин с возможностью загрузки проб различных типов в любой момент Уникальные характеристики безазотного SDD детектора XFlash ® –

10 S2 PICOFOX TXRF спектрометр Настольный рентгенофлуоресцентный спектрометр с полным внешним отражением 10

11 S8 TIGER ((( волнодисперсионный спектрометр последовательного типа Рентгеновская трубка с торцевым окном 1, 3 и 4кВт Наилучшая чувствительность по легким элементам благодаря 175мА Улучшенная система защиты спектрометрической камеры и трубки от загрязнений Высокая скорость движущихся механизмов Встроенный сенсорный экран управления. Малые размеры (менее 1 м 2 ) Автоматический сменщик масок 11

12 S8 TIGER: высокая аналитическая гибкость, чувствительность и разрешение вакуум-затвор возбуждение: 4kW (до 60kV или 150mA) проточный счетчик Сцинтилляционный детектор до 4 коллиматоров до 8 кристаллов- анализаторов до 10 фильтров первичного пучка 75 m проба коллиматорная маска Rh

13 S8 LION S8 DRAGON спектрометры многоканального типа Рентгеновская трубка с торцевым 3 и 4кВт До 16 анализируемых каналов Наилучшая чувствительность по легким элементам благодаря 170мА Высокая скорость анализа Диффракционный канал S8 LION EDX канал S8 DRAGON Встроенный сенсорный экран управления. Малые размеры (менее 1 м 2 ) Автоматический сменщик масок 13

14 S8 LION схема измерительной камеры

15 S8 LION Пропорциональный счётчик - для лёгких элементов Сцинтилляционный – для тяжёлых Термо-статированные кристаллы под каждую группу элементов Дифракционный канал для определения свободной извести Быстрая и точная пробоподача с системой SampleCare & Easy Load

16 S8 DRAGON Встроенный энергодисперсионный канал позволяет видеть всю таблицу менделеева, помимо 15 выбранных элементов.

17 17 Элементный анализ в электронной микроскопии QUANTAX QUANTAX - EDS с детекторами Xflash и Si(Li) Картирование с количественным анализом

18 M1 MISTRAL – микроанализ массивных проб и слоёв - анализ от Ti до U - размер объекта 100×100 мм - видео-микроскоп - лазерная указка для выбора области - дискретность исследуемой области от 100 мкм - моторизованный столик - точность 0.2 % масс. На драгоценных металлах

19 M4 TORNADO – микроанализ, картирование, спектр в каждой точке образца - анализ от Na до U - дискретность анализа 20 мкм - анализ многослойных систем - качественный и количественный анализ - встроенный вакуумный насос, безмасляная откачка - встроенные системы термостатирования и охлаждения трубки - до двух трубок с различными анодами

20 Картирование образца бетона, Анализируемая площадь : 15×11 мм, размер пятна 37 мкм, Общее время измерения с усреднением: 5 мин. 23 мин. 80 мин. Скорость счёта в точке (37 мкм) имп/с:

21 количественный и полуколичественный анализ простое, удобное и безопасное управление приборами обработка результатов во время измерения в реальном многозадачном режиме современная матричная коррекция и анализ без использования стандартных образцов гибкое и удобное для пользователя представление результатов анализа (Word, Excel, PowerPoint,…) интегрированная база данных для любых параметров интересуемой пробы быстрая и надежная передача всех данных по локальной сети Управление приборами, измерение, обработка и передача данных: SPECTRA plus 21

22 SPECTRA plus Оптимизация параметров измерения в режиме on-line 22

23 Рентгеноструктурный и фазовый анализ D8 ADVANCE D4 ENDEAVOR более 15 моделей дифрактометров !!! D2 PHASER 23

24 D8 ADVANCE: широкие возможности и гибкость качественный фазовый анализ с программой DIFFRAC plus SEARCH количественный фазовый анализ с программами DQUANT или TOPAS изучение фазовых превращений при изменении температуры и других внешних условий рефлектометрия при помощи программы LEPTOS анализ текстуры и микронапряжений по программе TexEval и STRESS 24

25 настольная система с аналитическими характеристиками стационарной составной гониометр – высокотехнологичное решение уникальный детектор LYNXEYE высокоточные направляющие для позиционирования оборудования включил – работай, нет необходимости в юстировке Качественный и количественный анализ фазового (минерального) состава с программным обеспечением EVA и TOPAS D2 PHASER – настольный порошковый дифрактометр 25

26 Рентгеновский дифракционный анализ Качественный фазовый анализ Количественный фазовый анализ 26

27 Рентгеновская дифрактометрия – качественный фазовый анализ с программой DIFFRAC plus SEARCH 27

28 DIFFRAC plus TOPAS Аппроксимация пика Размер кристаллитов Микронапряжения... Анализ дифрактограммы (Pawley, LeBail) Параметры ячейки... Определение структуры Уточнение структуры по Rietveld Количественный фазовый анализ по Rietveld 28

29 Сертификаты ГОССТАНДАРТА РФ Все приборы внесены в Госреестр средств измерений, допущенных к применению в Российской Федерации 29

30 ООО Брукер Благодарим за внимание! 30