Скачать презентацию
Идет загрузка презентации. Пожалуйста, подождите
1
РГУ им. Иммануила Канта Инновационный парк Центр ионно-плазменных и нанотехнологий Сканирующий высоковакуумный зондовый микроскоп атомарного разрешения JSPM 4610A Скан кремниевой пластины (111)
2
Разрешение (AFM и STM)Разрешение в плоскости и по вертикали: Атомное разрешение Пьезоэлектрический сканерМаксимальное перемещение: X, Y = 10 микрон, Z = 2,7 микрон ОбразецРазмеры образца: Стандартный держатель: максимальные размеры образца 8 (Ш) × 7,7 (Д) × 2 (В) мм 3 Нагревающий держатель: 1 (Ш) × 7 (Д) × 0,3 (В) мм 3 (рекомендуемые размеры) Механизм нагрева образцаСпособ нагрева: пропускание тока через образец. Температура нагрева: не менее 1200 °C Ток нагрева: до 3 А ДрейфДрейф системы: не более 0,05 нм/с Режим определения сигнала1) Режим AFM (изображение): Контактный режим Бесконтактный режим 2) Режим графической зависимости силы (FC) 3) Режим STM (изображение) 4) Режим STS 5) Режим нескольких изображений: Отображение одновременно до четырех каналов Сигнал определенияАтомная сила (контактный режим): от 10 пН до 10 нН (преобразование с помощью константы упругости) Сдвиг частоты (бесконтактный режим): от 10 до 3000 Гц (при f0 до 300 кГц) Туннельный ток (STM): от 50 пА до 1 мкА Напряжение смещенияСмещение образца: от 0 до ±10 В Установка предназначена для исследования характеристик поверхности образцов различного происхождения, устойчивых в условиях сверхвысокого вакуума. Установка обеспечивает: - исследования поверхностей контактным и бесконтактным методами атомно-силовой микроскопия (AFM); - исследования поверхностей методами туннельной микроскопии (STM); Установка обеспечивает также возможность преобразования прибора в магнитно-силовой микроскоп (MFM) и в фрикционно-силовой микроскоп (FFM). Технические характеристики
Еще похожие презентации в нашем архиве:
