Параметрические тесты п.п. приборов Тестирование высокоскоростного ЦАП Тестирование полосового фильтра Тестирование чипов памяти Тестирование последовательно- - презентация

1

2 Параметрические тесты п.п. приборов Тестирование высокоскоростного ЦАП Тестирование полосового фильтра Тестирование чипов памяти Тестирование последовательно- параллельного преобразователя.

3

4 Все тесты для учебных плат, а также прошивка CPLD для учебной платы HSDigital Demo DUT, могут быть запущены из основной демонстрационной программы Mixed Signal Demo BOX.exe. Программа является понятной и доступной для усвоения средой, позволяющей работать со всем комплексом демонстрационных устройств. В этой среде пользователь выбирает тестируемое устройство, подключенное к адаптеру в настоящий момент, желаемую прошивку CPLD (в тех тестах, где необходима перепрошивка), после чего может работать с демонстрационным тестом через панель основного окна программы Mixed Signal Demo BOX.exe.

5 Запустите программу Mixed Signal Demo BOX.exe В левой области панели расположены кнопки выбора учебных плат. При нажатии мышкой на эти кнопки в основном окне появится краткое описание соответствующих тестов. Выберите тестируемое устройство и демонстрационный тест, щелкнув мышкой по кнопке с названием соответствующей учебной платы (Учебная плата Chip Test DUT, Учебная плата HSDigital Demo DUT, Учебная плата MI Demo DUT). При этом в основной панели окна откроется интерфейс соответствующего демонстрационного приложения. До запуска тестов в разделе «Настройки» необходимо выбрать все используемые в тесте устройства.

6 На плате тестируемого устройства MI Demo DUT находятся следующие элементы: I.Высокоскоростной ЦАП 12 бит, 125 МГц; II.Шунт; III. Пропускающий полосовой фильтр на частоте 8 кГц;

7 Для данной группы тестов необходимо следующее оборудование: Плата сбора данных М-серии - NI 62х9 (1 шт.) Цифровой кабель SH68-C68-S (1 шт.)

8 В панели Настройки теста задаются параметры измерительного оборудования (частота дискретизации, передискретизация, а также допуски на прохождение теста. Статус прохождения теста отображается строкой Тест пройден или Ошибка теста

9 Нажав на кнопку Запустить тесты с МИ вы попадете на вкладкe Системные настройки для соответствующей группы тестов. Для данной группы тестов необходимо следующее оборудование: · Учебная плата «MI Demo DUT» (1 шт.) · Цифровой генератор/анализатор сигналов HSDIO - NI 655x (1 шт.) · Осциллограф NI 5122 (NI Scope) (1 шт.) · Генератор сигналов произвольной формы AWG - NI 542x (1 шт.) · Цифровой мультиметр DMM - NI 407x (1 шт.) · Кабели к цифровому мультиметру DMM Banana cables (2 шт.) · Кабели BNC-to-BNC (2 шт.) · Кабель SHC68-C68-D4 (1 шт.) · Кабель SH68-C68-S (1 шт.) · Кабель SMB-to-BNC (1 шт.)

10

11 Анализ высокоскоростного Цифро- Аналогового Преобразователя (ЦАП) Измерение потребляемой мощности Определение характеристик проходного полосового фильтра

12 Для данной группы тестов необходимо следующее оборудование: · Учебная плата «HS Digital Demo DUT» (1 шт.) · Цифровой генератор/анализатор сигналов HSDIO - NI 655x (1 шт.) · Осциллограф NI 5122 (NI Scope) (1 шт.) · Цифровой кабель NI SHC68-C68-D4 (1 шт.) · Кабель SMB-to-BNC (1 шт.) · Кабель BNC-to-BNC (2 шт.)

13 · Анализ BERT · Тест I2C · Аналоговый анализ цифрового сигнала

14 Функциональное тестирование памяти сводится к тому, что в эмулируемые учебной платой ячейки памяти записываются специальные тестовые образцы данных, а затем производится их считывание и сравнение с исходными данными. Для данного теста необходимо следующее оборудование: · Цифровой генератор/анализатор сигналов HSDIO - NI 655x (1 шт.) · Кабель NI SHC68-C68-D4 (1 шт.)

15 Для данного теста необходимо следующее оборудование: · Цифровой генератор/анализатор сигналов HSDIO - NI 655x (1 шт.) · Кабель NI SHC68-C68-D4 (1 шт.)

16 Для данного теста необходимо следующее оборудование: · Цифровой генератор/анализатор сигналов HSDIO - NI 655x (1 шт.) · Осциллограф NI 5122 (NI Scope) (1 шт.) · Кабель NI SHC68-C68-D4 (1 шт.) · Кабель SMB-to-BNC (1 шт.)

17 Для данного теста необходимо следующее оборудование: · Цифровой генератор/анализатор сигналов HSDIO - NI 655x (1 шт.) · Кабель NI SHC68-C68-D4 (1 шт.)

18 Традиционно тесты определения потребляемой мощности, токов утечки и пороговых напряжений осуществляются при помощи измерительных источников питания ИИП (SMU - Source Measure Unit). С созданием измерительного источника питания PXI-4130 Power SMU появилась возможность проведения параметрических тестов постоянного тока на полупроводниковых микросхемах, имея при этом возможность воспользоваться всеми преимуществами, которые предоставляет нам платформа PXI.

19 Учебная плата параметрического тестов постоянного тока для полупроводниковых приборов, или коротко, учебная плата «Chip Test Demo DUT», предназначена для иллюстрации этих возможностей при помощи адаптера учебных плат. Во время теста питание на тестируемую микросхему подается через специальный выход устройства PXI Измерительный канал устройства PXI-4130 подключен к строкам матричного переключателя PXI_2535, а его столбцы подключены к 130 различным выводам тестируемой микросхемы. Измерительный источник питания, таким образом, имеет возможность измерения различных параметров постоянного тока – напряжений, токов утечки и выходных токов на любом из выводов микросхемы.

20 Тест на обрыв или короткое замыкание в схеме Проверка потребляемой мощности (IDD, IDDQ) Проверка порогов напряжений логического нуля и единицы на входах (VIH, VIL) Измерение токов утечки на входах (IIH, IIL) Измерение уровней напряжения логического нуля и единицы на выходах (VOH, VOL) Проверка выходов на короткое замыкание (IOSH, IOSL)

21 Учебная плата «Chip Test DUT» (1 шт.) Цифровой генератор/анализатор сигналов HSDIO - NI 655x (1 шт.) Измерительный источник питания PXI-4130 Power SMU (1 шт.) Матричный переключатель сигналов PXI_2535 FET Matrix Switch (1 шт.) Кабель SHC68-68-D4 (1 шт.) Кабель SHC68-68-S (2 шт.) Специализированный кабель SMU/FET Cable for Chip DUT p/n A-01 (1 шт.)

22 Один из первых тестов постоянного тока, который должен быть проведен на микросхеме до производства параметрических тестов, это тест на обрывы и короткие замыкания. Тест исполняется последовательно проходя через перечисленные ниже стадии: · ИИП пропускает через ножку ввода/вывода небольшой положительный ток для проверки диода VDD diode · Измеряется напряжение, возникшее на испытуемом выводе микросхемы в результате протекания тока (при коротком замыкании = = 1.5В). · ИИП пропускает через ножку ввода/вывода небольшой отрицательный ток для проверки диода VDD diode. · Измеряется возникшее в результате этого напряжение (при коротком замыкании >= - 0.2В; при обрыве

23 Потребляемый микросхемой ток является одним из важнейших параметров постоянного тока, который следует измерять сразу после теста на обрывы и короткие замыкания. Тест сводится к измерению тока, протекающего через ножку VDD микросхемы, в различных ее состояниях, а именно: · После сброса, для проверки общего тока потребления (Gross IDD); это первый тест для проверки общей функциональности чипа. · В режиме ожидания, для проверки статического тока потребления (Static IDD), для оценки энергопотребления в состоянии бездействия. Измеряемые в этом тесте токи бывают порядка единиц микроампер и ниже. · Во множестве статичных логических состояний, для проверки тока покоя (Quiescent IDDQ) – это более жесткий тест режима низкого энергопотребления. Опять же, токи будут порядка единиц микроампер, или ниже. · В активном состоянии, для измерения динамического потребляемого тока (Dynamic IDD), ток потребляемый в процессе работы