Лабораторная база кафедры «Композиционные материалы и физико- химия металлургических процессов» института цветных металлов и материаловедения Адрес: 660025, - презентация

1 Лабораторная база кафедры «Композиционные материалы и физико- химия металлургических процессов» института цветных металлов и материаловедения Адрес: , г. Красноярск, пр. Красноярский рабочий 95, СФУ, ИЦМиМ. тел./факс (391) Зав. отделением канд.техн.наук, проф. Якимов Игорь Степанович.

2 Приборы и м етоды анализа *) ЛабораторииПриборы, изготовители, годМетоды и объекты анализа I.I.Рентгеновских методов исследования и анализа 1. Рентгеновский волновой флуоресцентный спектрометр XRF-1800 Shimadzu (Япония, 2007г). 2. Рентгеновский энергодисперсионный флуоресцентный спектрометр ARL QuantX Thermo Scientific (USA, 2007г). 3. Рентгеновский дифрактрометр с поликаппиллярной оптикой XRD-7000 Shimadzu (Япония, 2007г). 4. Рентгеновский порошковый дифрактрометр XRD-6000 Shimadzu (Япония, 2005г). Рентгеноспектральный флуоресцентный элементный анализ (от бора) твердофазных материалов и жидкостей Рентгенофазовый анализ и рентгеноструктурный анализ любых поликристаллических материалов и некоторых типов наноматериалов. II.Спектрального анализа 1. Атомно-абсорбционный спектрометр SOLAAR M6 Thermo Electron (USA, 2007г). 2. Термический анализатор SDT Q600 TA Instruments (USA, 2007г). 3. ИК-Фурье спектрометр Nikolet 380, совмещенный с анализатором SDT Q600, Thermo Electron (USA, 2007г). 4. Химическая лаборатория (Польша). Атомно-абсорбционный элементный анализ (с переводом в раствор) Термический анализ ТГА/ДТА/ДСК твердофазных материалов. ИК- спектроскопия газов. *) в кооперации с отделением 3 ЦКП СФУ

3 Приборная база Спектрометр XRF-1800 Shimadzu Термический анализатор SDT Q600 с ИК-Фурье спектрометром Nicolet 380 Дифрактрометр XRD-6000 Shimadzu Атомно-абсорбционный спектрометр SOLAAR M6

4 Научно-методическая аналитическая база Методы анализаКомментарии Аналитические методы: 1. Качественный рентгеноспектральный элементный анализ 2. Количественный рентгеноспектральный элементный анализ по стандартным образцам 3. Бесстандартный полуколичественный рентгеноспектральный элементный анализ 4. Рентгенофазовая идентификация (качественный вещественный анализ) 5. Бесстандартный полуколичественный рентгенофазовый вещественный анализ 6. Количественный комплексный рентгеноспектральный и рентгенофазовый вещественный анализ 7. Уточнение параметров кристаллической решетки Исследовательские методы и НИР: 1.Определение симметрии, кристаллографических индексов и параметров решетки новых материалов 2.Определение размеров микроблоков и микронапряжений 3.Определение и уточнение атомной кристаллической структуры новых материалов 4.Изучение процессов фазообразования и продуктов синтеза новых материалов 5.Разработка автоматизированных систем рентгеновского производственного контроля 6.Разработка и аттестация СО фазового состава 7.Разработка и аттестация методик рентгеноанализа От B до U, предел обнаружения ~ % масс. От С до U, точность ~ % масс. От С до U; минералы, сплавы, сред. точность ~ % масс. Любые кристаллич. материалы, предел обнаружения ~0.5% масс. Любые материалы, точность ~5-2% масс./фазу. Порошки, точность ~0.5-1% масс./фазу Любые кристаллич. материалы, точность ангстрем. Порошки, предпочтительно однофазные. Любые кристаллические материалы, необходим стандартный образец. Порошки, предпочтительно однофазные. В т.ч. высокотемпературных процессов. В т.ч. в отраслях: алюминиевой, глиноземной, цементной, обогащения минерального сырья и др. Аналитические методы: 1. Атомно-абсорбционный элементный анализ в растворах 2. Разработка методик химического растворения проб 3. Термический анализ методами ТГА/ДТА/ДСК, 4. ИК- спектроскопия газов. На ~ 70 элементов, предел обнаружения ~ 1ppm. Твердофазных материалов в инертной атмосфере и на воздухе.