1 ДИФРАКЦИЯ МЕДЛЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ ДИФРАКЦИЯ МЕДЛЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин презентация к лекциям по курсу «Физические.

Презентация:



Advertisements
Похожие презентации
Дифракция медленных электронов Энергии – эВ. Образцы – монокристаллы Глубина снятия информации – один моноатомный слой.
Advertisements

1 СПЕКТРОСКОПИЯ РАССЕЯНИЯ МЕДЛЕННЫХ ИОНОВ СПЕКТРОСКОПИЯ РАССЕЯНИЯ МЕДЛЕННЫХ ИОНОВ В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин презентация к лекциям.
1 ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин презентация к лекциям по курсу «Физические.
Кристаллическая структура Связь атомов в кристалле Вектора трансляции 1912 г. М. фон Лауэ. Дифракция рентгеновского излучения на кристаллах.
Лекция 2: Структура, методы роста и исследования полупроводников. Строение идеальных кристаллов. Кристаллы, анизотропия их физических свойств. Трансляционная.
Рентгеновские лучи Рентгеновские лучи – электромагнитное излучение с длинами волн 10–4 – 10 А (10–5 – 1 нм).
Лекция 2: Структура, методы роста и исследования полупроводников. Строение идеальных кристаллов. Кристаллы, анизотропия их физических свойств. Трансляционная.
2.10.Колебания поверхностных атомов При повышении температуры появляются колебания атомов около их равновесных положений Силы взаимодействия можно рассматривать.
2.7. Фасетирование поверхности Изменение кристаллографической ориентации на отдельных участках Выигрыш вследствие различия удельных поверхностных энергий.
Волновой механизм процессов переноса в твердых телах.
Современная зондовая микроскопия. Теоретические основы Обобщенная структурная схема сканирующего зондового микроскопа.
Программа фундаментальных исследований Президиума РАН 27 «ОСНОВЫ ФУНДАМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ НАНОТЕХНОЛОГИЙ И НАНОМАТЕРИАЛОВ» Проект: «Развитие методов.
1 СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ СКАНИРУЮЩАЯ ЗОНДОВАЯ МИКРОСКОПИЯ В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин презентация к лекциям по курсу «Физические.
Лекция 8 Волновые свойства частиц. Алексей Викторович Гуденко 05/04/2013.
1 Дифракция волн на кристаллических решетках. 2 Признак кристаллической структуры - пространственная периодичность Экспериментальное подтверждение – дифрактограммы.
Электрофизические свойства проводниковых материалов Автор Останин Б.П. Эл. физ. свойства проводниковых материалов. Слайд 1. Всего 12 Конец слайда.
Данные JEM-2100: видны дифракционные эффекты на зернах размером 5-10 нм в частично кристаллизованной ленте (после отжига при 495°С) Данные JEM-2100: дифракционная.
Современная зондовая микроскопия. Теоретические основы Обобщенная структурная схема сканирующего зондового микроскопа.
БЕСПОРЯДОК В ТВЕРДЫХ ТЕЛАХ Выполнил: Митруков Максим, 553 гр.
Дифракция Френеля. Лекция 13 Зима 2011 Лектор Чернышев А.П.
Транксрипт:

1 ДИФРАКЦИЯ МЕДЛЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ ДИФРАКЦИЯ МЕДЛЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин презентация к лекциям по курсу «Физические методы исследования поверхности и наноструктур»

2 Лекция 1 Дифракция медленных электронов. Двумерные кристаллические решетки Вектор трансляции Индексы Миллера Обозначение поверхностной решетки:

3 Лекция 1 Дифракция на трехмерной решетке Условие дифракции Брэгга-Вульфа Описание Лауэ Закон сохранения импульса при упругом рассеянии Сфера Эвальда

4 Лекция 1 Дифракция на двумерной решетке Сфера Эвальда Межатомное расстояние

5 Лекция 2 Аппаратура и структурные эффекты в ДМЭ

6 Лекция 2 Использование ДМЭ для анализа наноразмерных объектов 1. Исследование адсорбции In на поверхности Si(111) при адсорбции In на поверхности Si(111) при комнатной температуре атомы In образуют поверхностную структуру, которая при увеличении степени покрытия переходит в структуру. На промежуточной стадии осаждения обе структуры сосуществуют, что проявляется в дифракционной картине

7 Лекция 2 Использование ДМЭ для анализа наноразмерных объектов 2. Исследование ансамбля нанокластеров на поверхности Профили интенсивности точечного рефлекса ДМЭ и СТМ-изображения нанокластеров Rh, на поверхности Al2O3/NiAl(110) при T=90 K (a, b) и Т=300 К (c, d). Энергия электронов 30 эВ, размер СТМ-изображений 80×80 нм Зависимость среднего размера наноклаастеров Pd от номинальной толщины осажденного металла, полученная из анализа профиля рефлекса ДМЭ Распределение интенсивности сигнала рефлекса (00) дифракционной картины ансамбля нанокласеров Pd на поверхности Al2O3/NiAl(110) при различных энергиях электронов