0 Открытое акционерное общество «ИНФОРМАЦИОННЫЕ СПУТНИКОВЫЕ СИСТЕМЫ» имени академика М.Ф. Решетнёва.

Презентация:



Advertisements
Похожие презентации
1 Проблемные вопросы обеспечения качества и надежности бортового оборудования космических аппаратов систем спутниковой связи.
Advertisements

К.т.н., Денисов Андрей Николаевич Международная конференция МИКРОЭЛЕКТРОНИКА 2015 «Интегральные схемы и микроэлектронные модули – проектирование, производство.
ЗАО « Протон - Импульс », г. Орел 16 лет на рынке поставщиков электронных компонентов: твердотельных полупроводниковых реле средней и большой мощности,
НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ СИСТЕМНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК ОПЫТ РАЗРАБОТКИ РАДИАЦИОННО-СТОЙКИХ БИБЛИОТЕК И СБИС С ПРИМЕНЕНИЕМ СПЕЦИАЛИЗИРОВАННОЙ.
Исполнительный директор ФС «Энергия» А.И.Холомкина Практические вопросы обеспечения качества ЭКБ ИП при проведении сертификации в системе ФСС КТ Фонд сертификации.
Федеральное государственное унитарное предприятие Ордена Трудового Красного Знамени центральный научно-исследовательский институт Комета Федеральное государственное.
ФОРМ Тестер высокочастотных СБИС и ЗУ FORMULA HF3 Высочайшая достоверность измерений Тестер высокочастотных СБИС и ЗУ FORMULA HF3 Высочайшая достоверность.
Обеспечение радиационной стойкости СБИС космического применения на уровне более 6Ус в базовых технологических процессах, реализованных в НИИСИ РАН НИИСИ.
Г. Чебоксары 1. для электроэнергетики, нефтегазовой отрасли, железнодорожного транспорта и энергоемких промышленных предприятий НПП «Динамика» - лидер.
ФОРМ Тестирование и испытания изделий электронной техники Требования к входному контролю ЭКБ и их реализация в соответствии с НТД Тестирование и испытания.
Докладчики: Коломенская Наталия Георгиевна – заместитель генерального директора по научной работе ОАО РНИИ «Электронстандарт», к.э.н. Прытков Сергей Федорович-
Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно- стойких микросхем В.Н. Ачкасов, В.А. Смерек, Д.М. Уткин, В.К.
ОАО «ИНТЕГРАЛ» Филиал «ТРАНЗИСТОР» Новые разработки изделий спецназначения.
Создание межотраслевого центра проектирования, каталогизации и изготовления фотошаблонов с объемом производства не менее 1200 шт. год на базе ОАО «Российская.
ВСТРОЕННЫЕ ИНФОРМАЦИОННО- УПРАВЛЯЮЩИЕ СИСТЕМЫ РЕАЛЬНОГО ВРЕМЕНИ Лекция 09 Мониторинг и отладка ИУС РВ Кафедра АСВК, Лаборатория Вычислительных Комплексов.
Технологические возможности НИИСИ РАН с точки зрения последних требований зарубежных стандартов к микросхемам, применяемым в космических объектах НИИСИ.
ДОКЛАД ПЕРСПЕКТИВЫ РАЗРАБОТКИ ИСТОЧНИКОВ ВТОРИЧНОГО ЭЛЕКТРОПИТАНИЯ ДЛЯ РАКЕТНО-КОСМИЧЕСКОЙ И АВИАЦИОННОЙ ТЕХНИКИ.
ООО "Пегас Лоджик", Калуга. Инновации в промышленном секторе Инновации в секторе ВПК.
ФЕДЕРАЛЬНОЕ КОСМИЧЕСКОЕ АГЕНСТВО ПРОГРАММА ОБЕСПЕЧЕНИЯ СТОЙКОСТИ БОРТОВОЙ РЭА КА К ВОЗДЕЙСТВИЮ ИИ КП – СОДЕРЖАНИЕ И МЕТОДОЛОГИЯ ЕЕ РЕАЛИЗАЦИИ к.т.н. Ужегов.
1 «Разработка методического и технологического обеспечения размещения и сбора сведений об образовательных организациях, используемых в процедурах государственной.
Транксрипт:

0 Открытое акционерное общество «ИНФОРМАЦИОННЫЕ СПУТНИКОВЫЕ СИСТЕМЫ» имени академика М.Ф. Решетнёва

Анализ соотношения ЭРИ категории качества « ОС » (« ОСМ ») и « ВП » Классы ЭРИ МОП … г. МОП … г. Перечень ЭРИ для КА « Ямал -300 К » ВП Микросхемы 56,7%59,4%21,6% Полупровод- никовые приборы 79,2%76,4%24,5% Резисторы и конденсаторы 71,7%73,2%25% Реле 82,4%80,6%18,2%

Отказы ЭРИ при изготовлении бортовой аппаратуры в ОАО « ИСС » за 2009 год п/пп/п НаименованиеВсего ( шт. ЭРИ ) Подтверждено ИТЦ Признано З / И 1 ИС Диоды Реле Конденсаторы 63– 5 Оптопара 11– Всего ( шт. ЭРИ ):52286

Дополнительные меры по повышению качества ЭКБ 1. Дополнительные испытания в соответствии с «Программой дополнительных испытаний электрорадиоизделий в испытательных центрах для обеспечения комплектации бортовой аппаратуры КА …». 2. Разработка решений с предприятиями-изготовителями «проблемных» ЭРИ о поставке в ОАО «ИСС» специальных партий, ужесточающих требования к технологии изготовления и объемам испытаний на заводе-изготовителе. 3. Централизация закупки специальных партий «проблемных» ЭРИ и обеспечение ими предприятий-изготовителей бортовой аппаратуры по заказам ОАО «ИСС».

Необходимость разработки « ключевых » ЭРИ космического уровня качества для аппаратуры космических аппаратов с длительным САС Функциональное назначениеПараметры RISC-микропроцессоры: LEON 3, LEON 4, Power PC 750/RAD750, ARM частота 30…300 MГц Микросхемы памяти: ОЗУ, ПЗУ, ППЗУ (электрически перепрограммируемая, энергонезависимая) 8K x 8, 32K x 8, 512K x 8 (5…50 ns, 3.3 V) Твердотельные реле1…8 каналов, 100…500 мА, 30…150 V, 10…20 Ом Стабилизаторы/преобразователи напряжения1…2 канала, 1.25…27 V, 1…3 А Многоканальные аналоговые мультиплексоры16/32/48/64 канала, защита ±20…30 V, напряжение коммутации ±20 V) АЦП и ЦАП12/14-разрядные Счетверенные операционные усилителиобщего применения, прецизионные, быстродействующие Микросхемы стандартных интерфейсов: - контроллеры/коммутаторы Space Wire100…200 мбит/с, 2.5/3.3 V, 1…16 портов - контроллеры MIL-1553, CAN, Ethernet, RS-422/485, PCI - физические драйверы интерфейсов Space Wire/LVDC, MIL- 1553, CAN, Ethernet, RS-422/485, PCI Полузаказные СБИС (процессоры, контроллеры интерфейсов, встроенная память ПЗУ, ОЗУ и т.д.) ёмкость 2-8 миллионов вентилей с переменным набором функциональных узлов, аналог UT699 (Aeroflex) Программируемая платформа (ПЛИС), IP-блоки (процессоры, контроллеры и т.д.) для российских и зарубежных программируемых платформ (Actel, Xilinx и т.д.) емкость 1…12 миллионов вентилей с соответствующим САПР (30…100 МГц, 3.3 V, встроенные опционные блоки ОЗУ, ПЗУ, DSP)

Предложения по обеспечению бортовой аппаратуры космических аппаратов высоконадежной ЭКБ 1. Разработать и реализовать программу обеспечения заинтересованности предприятий – изготовителей ЭРИ в производстве ЭРИ с категориями качества « ОС », « ОСМ », включенных в МОП с категорией качества « ВП ». 2. Включить во все ОТУ на ЭРИ требование о периодической проверке радиационной стойкости. Включить в ТУ на типы ЭРИ данные по параметрам чувствительности ЭРИ к одиночным эффектам при воздействии протонов и тяжелых заряженных частиц ( ТЗЧ ). Включить в ТУ для критичных ЭРИ ( изделия оптоэлектроники и биполярные изделия ) данные по деградации параметров от эффектов смещения. 3. Принять меры по повышению качества изготовления отечественных ЭРИ. Обеспечить проведение в процессе изготовления ЭРИ категорий качества « ОС », « ОСМ »: а ) испытаний на наличие посторонних частиц в подкорпусном пространстве ; б ) электротермотренировки необходимой длительности в соответствии с ОТУ на ЭРИ ; в ) контроля дрейфа параметров ; г ) контроля радиационной стойкости ; д ) разрушающего физического анализа. 4. Разработать ключевые высокоинтегрированные ЭРИ для космического применения с характеристиками, соответствующими лучшим мировым образцам. 5. Внедрить комплект стандартов на ЭРИ космического применения категории качества « ОСД ». Разработать и внедрить технико - экономические мероприятия в обеспечение изготовления ЭРИ категории качества « ОСД ». 6. Внедрить комплект стандартов на ЭРИ космического применения категории качества « ОСД ». Разработать и внедрить технико - экономические мероприятия в обеспечение изготовления ЭРИ категории качества « ОСД ».

Результаты испытаний ЭРИ на дозовые эффекты Количество испытанных типономиналов ЭРИ из летных партий для КА «Amos», шт. Количество партий ЭРИ, не соответствующих требованиям ТУ на них, шт. 180 типономиналов ЭРИ ОП, из них:19 Анализ количества партий ЭРИ, не подтвердивших уровни стойкости, заявленные в ТУ, по заводам - изготовителям п / п Заводы - изготовители ЭРИКоличество типономиналов ЭРИ, не подтвердивших уровень стойкости 1. ФГУП « НПП « Восток », г. Новосибирск 3 2. ОАО « ВЗПП - С », г. Воронеж 3 3 ЗАО « Светлана - Полупроводники », г. С - Петербург 2 4. НПО « Интеграл », г. Минск 2 5. ОАО « Восход »- КРЛЗ, г. Калуга 2 6. ФГУП « НЗПП с ОКБ », г. Новосибирск 1 7. ФГУП НПП « ЭлТом », г. Томилино 1 8. ОАО « Ангстрем », г. Москва 1 9. ЗАО « ПКК « Миландр », г. Москва 1 10 ОАО « Протон », г. Орел 1 11 СКТБ « Оптрон », г. Орел 1 12 ОАО « НИИМЭ и Микрон », г. Москва 1