Техника изотопного анализа. Основные системы масс-спектрометров и их назначение Получение ионов (источник) Получение ионов (источник) НагревНагрев Бомбардировка.

Презентация:



Advertisements
Похожие презентации
Техника изотопного анализа Юрий Александрович Костицын МГУ им. М. В. Ломоносова Геологический факультет Задачи (*.xlsx) и лекции.
Advertisements

Техника изотопного анализа Юрий Александрович Костицын МГУ им. М. В. Ломоносова Геологический факультет Задачи (*.xlsx) и лекции.
Масс-спектрометрия – аналитический метод определения молекулярной массы свободных ионов в высоком вакууме.
Тема урока: А т о м q=0 я д р о электроны q>0 e; q0.
ВАРИАНТ 1 1) Атом – это частица, состоящая из …… 2) Масса атома определяется суммой масс частиц: … 3) Порядковый номер элемента показывает число ….. и.
Масс - спектрометрия. Подготовила : Тренинская Дарья Геннадиевна 122 группа Технологический факультет.
Лекционный курс «Физические основы измерений и эталоны» Раздел МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ Тема Исследования состава нефтей. Петролеомика.
ВТОРИЧНЫЙ ИОННЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР PHI-6600 фирмы PERKIN ELMER Исследование элементного состава и распределения примесей по глубине основано на анализе.
СРАВНЕНИЕ НЕКОТОРЫХ СПЕКТРАЛЬНЫХ МЕТОДОВ АНАЛИЗА ЭОС РФС (ЭСХА) Динамический ВИМС Времяпролетный ВИМС Область применения Поверхность, частицы, анализ дефектов,
Тема: Строение электронных оболочек атомов Основные понятия: Электронная оболочка. Электронная оболочка. Электронный слой. Электронный слой. Энергетический.
Строение атома Подготовка к ЕГЭ. Число электронов во внешнем электронном слое атома, ядро которого содержит 8 протонов, равно 1) 8 2) 2 3) 6 4) 4.
Plates 1s,2s, 3s, 4s, 5s, 6s, 7s, are an alpha particles. Li 3 He 2 2 Be B 5 The beginning of formation of a ring 2p, around and between plates 1s.
Е.А. Иньков 1, А.Н. Ермаков 1,И.А. Коробейникова 1, Г.Б. Прончев 2. 1 Институт энергетических проблем химической физики РАН 2 Московский государственный.
Содержательный блок ХИМИЧЕСКИЙ ЭЛЕМЕНТ Вопрос А 1, А 2 Бортникова Г.В. учитель химии МОУ «СОШ 4 п. Чернянка Белгородской области» 11 класс подготовка.
Лекция 10 Периодический закон и периодическая система химических элементов.
МЕТАЛЛЫ В ПЕРИОДИЧЕСКОЙ СИСТЕМЕ ХИМИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ Д.И. МЕНДЕЛЕЕВА Петреня Игорь Михайлович, учитель химии и биологии государственного учреждения образования.
Плазменные технологии Плазма. Образование плазмы Каждый атом состоит из положительно заряженного ядра, в котором сосредоточена почти вся масса атома, и.
1. Рассчитайте относительные молярные массы веществ: Na 3 PO 4, SO Рассчитайте относительные молярные массы веществ AL 2 (CO 3 ) 3, Ca(NO 3 ) 2.
Томск, ТПУ, ИГНД, ГЭГХ 1 Лекция 5 Спектральные методы.
Во что мы верим сейчас?. Современный атом Атом состоит из Атом состоит из протонов и нейтронов, протонов и нейтронов, находящихся в ядре, находящихся.
Транксрипт:

Техника изотопного анализа

Основные системы масс-спектрометров и их назначение Получение ионов (источник) Получение ионов (источник) НагревНагрев Бомбардировка частицами (электронами, протонами, нейтронами, ионами)Бомбардировка частицами (электронами, протонами, нейтронами, ионами) Разделение ионов по массам (анализатор) Разделение ионов по массам (анализатор) В магнитном полеВ магнитном поле В электрическом полеВ электрическом поле Во времениВо времени Измерение ионных токов (система регистрации) Измерение ионных токов (система регистрации) ОдноколлекторныеОдноколлекторные МногоколлекторныеМногоколлекторные

Источники ионов Термо-ионизационный (твердофазный). Rb-Sr, Sm-Nd, U-Th-Pb, Lu-Hf, Re-Os, Hf-W Термо-ионизационный (твердофазный). Rb-Sr, Sm-Nd, U-Th-Pb, Lu-Hf, Re-Os, Hf-W Одно-, двух- и трёхленточныеОдно-, двух- и трёхленточные Позволяет получать положительные и отрицательные ионыПозволяет получать положительные и отрицательные ионы Позволяет получать ионы отдельных атомов и соединений (напр., окислы)Позволяет получать ионы отдельных атомов и соединений (напр., окислы)

Источники с ударной ионизацией Электронный удар. O, C, S, N, He, Ne, Ar, Kr, Xe. Электронный удар. O, C, S, N, He, Ne, Ar, Kr, Xe. Ионный (O 2 -, Ar +, Cs + ) удар. U-Pb в цирконах. Ионный (O 2 -, Ar +, Cs + ) удар. U-Pb в цирконах.

Источник с индуктивно- связанной плазмой (ИСП) или ICP – inductively coupled plasma. Широкий круг элементов. Анализ растворов, газов, локальный анализ (лазерная абляция) Источник с индуктивно- связанной плазмой (ИСП) или ICP – inductively coupled plasma. Широкий круг элементов. Анализ растворов, газов, локальный анализ (лазерная абляция)

Анализаторы Квадрупольные Квадрупольные

Времяпролётные, TOF – time of flight Времяпролётные, TOF – time of flight

Секторный магнит Секторный магнит

Система регистрации ионных токов Цилиндр (чашка) Фарадея Вторично-электронный умножитель

Масс-спектрометры TIMS – thermo-ion mass-spectrometer (Triton, MAT-262, Sector-54) Термо- ионизационный источник Секторный магнит Мультиколлектор- ная система регистрации ICP-MS-MC (Neptune, NU, Axiom, Isoprobe) Источник с индуктивно- связанной плазмой Секторный магнит Мультиколлектор- ная система регистрации ICP-MS для химического анализа (Plasmaquad, Elan-6100, LECO Renaissance, GBC OptiMass) Источник с индуктивно- связанной плазмой Квадрупольный или времяпролёт- ный анализатор Одноколлектор- ная система регистрации

Delta Plus

Triton

Neptune

Ионно-ионные масс-спектрометры (SIMS, SHRIMP, ion microprobe) SHRIMP (Sensitive High Resolution Ion Micro- Probe ) SHRIMP (Sensitive High Resolution Ion Micro- Probe ) Cameca-1270 / 1280 Cameca-1270 / 1280

Cameca-1270

SHRIMP или LA-ICP-MS ?

Подготовка вещества к изотопному анализу

Кислород в силикатах и окислах (классическая схема) Clayton, Mayeda, 1963

Кислород в силикатах и окислах (лазерное фторирование) Sharp, 1990

Камера для фторирования лазером Sharp, 1990

Разделение элементов для твердофазного изотопного анализа