Лекционный курс «Физические основы измерений» Раздел МЕТОДЫ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЙ Тема СКАНИРУЮЩИЕ (растровые) МИКРОСКОПЫ (3)
Атомно – силовой микроскоп
Потенциальная энергия взаимодействия атомов Отталкивание атомов Притяжение атомов Атомно – силовой микроскоп
Сходство с механическим профилометром Оптическая система измеряет отклонения зонда, сканирующего поверхность Между атомами зонда и образца действуют силы – Н (при зазоре 1 Å ). Атомно-силовой микроскоп
Зонд атомно – силового микроскопа из углеродных нанотрубок
Блок-схема атомно-силового микроскопа
Обнаружение отдельных частей молекул в атомно-силовом микроскопе Позолоченный зонд подвергают химической обработке СХЕМА ЭКСПЕРИМЕНТА Молекулы на зонде взаимодействуют с отдельными частями молекул на образце
Изображение в АСМ без химической обработки зонда На зонде – фрагменты –COOH На зонде – фрагменты –CH 3
Сборка молекул из отдельных деталей Эта молекула, из 18 атомов цезия и 18 атомов йода была собрана путем последовательного присоединения отдельных атомов в атомно-силовом микроскопе