Рентгенофлуоресцентный анализатор X-Supreme 8000 производства компании Oxford Instruments (Великобритания) ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications.

Презентация:



Advertisements
Похожие презентации
Институт земной коры СО РАН, Иркутск Аналитический центр ОЦЕНКА ВОЗМОЖНОСТИ КОЛИЧЕСТВЕННОГО РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ TiO 2, V, Ba, La, Ce, Nd,
Advertisements

Сопоставление результатов рентгенофлуоресцентного и фотометрического определения Mn, Pb и Cr(VI) в аэрозолях, собранных на фильтр Кузнецова О.В. Коржова.
Модификация структуры и механических свойств быстрорежущей стали Р18 при комбинированном плазменном и термическом воздействии Магистерская работа Бибик.
Новые возможности методов рентгеноспектрального микроанализа Н.П. Ильин НПП «Квант»
Современное аналитическое оборудование фирмы Bruker AXS
Рентгенофлуоресцентные спектрометры компании Rigaku (Обзор) Новосибирск, 22 сентября 2011 г TOKYO BOEKI LTD.
Лекционный курс «МЕТОДЫ И СРЕДСТВА ИССЛЕДОВАНИЙ» ЛЕКЦИЯ 12 МЕТОДЫ КОМПЬЮТЕРНОЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ ТОМОГРАФИИ ( КРТ )
Лекционный курс «Физические основы измерений и эталоны» Раздел ИССЛЕДОВАНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПОТОКОВ ИЗЛУЧЕНИЙ Тема МЕТОДЫ КОМПЬЮТЕРНОЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ ТОМОГРАФИИ.
Кристаллизации металлов. Методы исследования металлов.
ВТОРИЧНЫЙ ИОННЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР PHI-6600 фирмы PERKIN ELMER Исследование элементного состава и распределения примесей по глубине основано на анализе.
Распределение тяжелых металлов в донных отложениях Феодосийского залива Е.А. Котельянец, С.К. Коновалов Морской гидрофизический институт НАН Украины.
Студентка СТ 4-2 Журавлева А.А. ФБГОУ ВПО «Московский государственный строительный университет» XVI Международная межвузовская научно-практическая конференция.
Полые микросферы как эффективный заполнитель для бетонов полифункционального назначения
1 ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ОЖЕ-ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ В.И. Троян, М.А. Пушкин, В.Д. Борман, В.Н. Тронин презентация к лекциям по курсу «Физические.
Томография на рассеянном рентгеновском неколлимированном излучении Горшков В.А. МАДИ(ГТУ) Тел , Теория, моделирование,
Лабораторная база кафедры «Композиционные материалы и физико- химия металлургических процессов» института цветных металлов и материаловедения Адрес: ,
Рентгеноспектральное флуоресцентное определение Mo, Nb, Zr, Y, Sr, Rb, U, Th и Pb в алюмосиликатных горных породах А.Г. Ревенко, Е.В. Худоногова, Д.А.
РГУ им. Иммануила Канта Инновационный парк Центр ионно-плазменных и нанотехнологий ОЖЕ МИКРОАНАЛИЗАТОР JAMP – 9500 F Образец до травления Образец после.
Микрофокусный малогабаритный рентгенофлуоресцентный спектрометр с поликапиллярной оптикой Кумахова Институт рентгеновской оптики Болотоков А.А., Груздева.
СТРУКТУРА, ФАЗОВЫЙ СОСТАВ И МЕХАНИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ТВЕРДОГО СПЛАВА Т 15 К 6, ОБЛУЧЕННОГО СИЛЬНОТОЧНЫМИ ЭЛЕКТРОННЫМИ ПУЧКАМИ Научный руководитель профессор.
Транксрипт:

Рентгенофлуоресцентный анализатор X-Supreme 8000 производства компании Oxford Instruments (Великобритания) ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications

Рентгеноспектральный химический анализ Качественный и полный количественный анализ SDD детектор Анализ твердых образцов, порошков, гранул и жидкостей Анализ по фундаментальным параметрам Рентгенофлуоресцентный анализатор X-Supreme 8000 ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications Анализ от натрия Na до урана U Результат через 5…300 сек

Рентгеноспектральный химический анализ Сенсорный дисплей Стандартная комплектация X-Supreme ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications Встроенный компьютерРусскоязычное ПО Подключение к локальной компьютерной сети Экспорт результатов анализа USB-порты

Рентгеноспектральный химический анализ Стандартная комплектация X-Supreme ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications Загрузчик проб на 10 образцов Встроенные образцы для автоматической проверки состояния измерительной системы и подстройка коэффициента усиления в случае необходимости

Рентгеноспектральный химический анализ Стандартная комплектация X-Supreme ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications Вращатель образцов Уменьшение влияния негомогенности образцов

Рентгеноспектральный химический анализ Стандартная комплектация X-Supreme ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications SDD детектор Разрешение по Mn Kα не хуже 150 эВ Высокие скорости счета

Рентгеноспектральный химический анализ Рентгеновская трубка с Pd анодом ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications Возможные комплектации X-Supreme Рентгеновская трубка с W анодом Мощная модель анализа по фундаментальным параметрам Коррекция на негомогенное рассеяние как учет влияния матрицы Оптимально для силикатного анализа

Рентгеноспектральный химический анализ Низкие эксплуатационные расходы Высокая точность анализа Минимум технического обслуживания раз в 3-5 лет Удобство и гибкость работы Рентгенофлуоресцентный анализатор X-Supreme 8000 ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications

ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications Рентгеноспектральный химический анализ Элемент Исследуемый диапазон концентраций, вес.% Точность (95% доверительный интервал), вес.% Na 2 O0,02 – 1,070,012 MgO0,81 – 4,480,03 Al 2 O 3 3,9 – 7,10,03 SiO 2 18,6 – 22,40,07 P2O5P2O5 0,02 – 0,310,003 SO 3 2,1 – 4,60,011 K2OK2O0,09 – 1,230,011 CaO57,6 – 67,90,08 TiO 2 0,08 – 0,370,004 Cr 2 O 3 0,002 – 0,060,001 Mn 2 O 3 0,007 – 0,260,002 Fe 2 O 3 0,15 – 3,10,008 ZnO0,001 – 0,110,001 SrO0,02 – 0,640,001 Исследование проводилось по сертифицированным образцам цемента NIST

ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications Рентгеновская компьютерная томография Системы рентгеновской компьютерной томографии компании XRadia (Калифорния, США) Глинозем 20 мкм

ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications Рентгеновская компьютерная томография

ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications Рентгеновская компьютерная томография Нефть и газ Исследование пространственной микроструктуры пор и моделирование потоков для последующего виртуального анализа кернов Материаловедение Исследование характеристик композитных и других функциональных материалов для определения таких свойств, как как пористость, трещины и распределение фазы Геологические образцы 2D и 3D исследования геологических и минеральных образцов с геометрическими размерами от миллиметров до 30 см, определение внутренней микроструктуры и распределения фазового состава Комплексы компьютерной томографии XRadia – это высочайшее качество 3D-изображений в субмикронном и нанометровом диапазонах пространственного разрешения

ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications Рентгеновская компьютерная томография 3D исследование кернов – зерна CaCO 3 с микритом: виртуальное моделирование процессов Твердооксидный топливный элемент: многофазовое изображение 10 um 5 um

ЭКСИТОН АНАЛИТИК Geological Applications Рентгеновская компьютерная томография Полимер: изображения элементов с малым Z 3D исследование кернов – карбонат: виртуальное моделирование процессов 100 um 500 um