МГУ им. Н. П. Огарева 1 КОМПЛЕКС ИСПЫТАТЕЛЬНОЙ АППАРАТУРЫ серии «АДИП» ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА СИЛОВЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ докладчик: руководитель.

Презентация:



Advertisements
Похожие презентации
Аппаратно-программный комплекс для испытания и диагностики силовых полупроводниковых приборов Авторы: Н. Н. Беспалов, М. В. Ильин, С. С. Капитонов Мордовский.
Advertisements

Установка для определения электротепловых параметров и характеристик мощных транзисторов MOSFET и IGBT Автор проекта:А. Е. Лысенков.
ЗАО « Протон - Импульс », г. Орел 16 лет на рынке поставщиков электронных компонентов: твердотельных полупроводниковых реле средней и большой мощности,
Тиристоры Костяков Алексей Группа Тиристор представляет собой полупроводниковый прибор с тремя или более p-n-переходами.
III-ой региональный семинар «Компьютерное моделирование и проектирование микро- и наноэлектроники и микроэлектромеханических систем», 9 апреля 2011 Матюхин.
Г. Чебоксары 1. для электроэнергетики, нефтегазовой отрасли, железнодорожного транспорта и энергоемких промышленных предприятий НПП «Динамика» - лидер.
ЗАО «ТЕСТПРИБОР» РАЗРАБОТКА И ПРОИЗВОДСТВО КОРПУСОВ ДЛЯ МИКРОСХЕМ И ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ ИСПЫТАНИЯ ЭЛЕКТРОРАДИОИЗДЕЛИЙ И ОБОРУДОВАНИЯ ЭЛЕКТРОПИТАНИЯ.
Г. Чебоксары 1. для электроэнергетики, нефтегазовой отрасли, железнодорожного транспорта и энергоемких промышленных предприятий НПП «Динамика» - лидер.
УСИЛИТЕЛЬ НИЗКОЙ ЧАСТОТЫ НА МИКРОСХЕМЕ НА МИКРОСХЕМЕ К174УН7.
ТИРИСТОРЫ Выполнили : Тимохов Е. Г., Гоголева А. Н., Ламкин Д. С. Преподаватель : Гуртов В. А.
1 С-Петербург, 2005 ДРАЙВЕРЫ по каталогу ELFA MOSFET/IGBT MOTOR LED.
Полупроводниковые и микроэлектронные приборы Тиристоры.
Лекция 2 Силовые диоды Электронно-дырочный переход Принципы действия большинства полупроводниковых приборов основаны на явлениях и процессах, возникающих.
Обозначения на чертежах и схемах элементов общего применения относятся к квалификационным, устанавливающим род тока и напряжения, вид соединения, способы.
Полупроводниковый диод ЮРГТУ (НПИ) Кафедра Автоматики и телемеханики.
Презентация по предмету: «Микрооптоэлектроника» Выполнил: Кобяков В. И. гр Тема: Тиристоры ПетрГУ 2011.
Тиристоры Выполнили студентки гр Лепко А., Лобанова А.
Полупроводниковые приборы. Стремительное развитие и расширение областей применения электронных устройств обусловлено совершенствованием элементной базы,
Презентация по предмету: «Микрооптоэлектроника» Выполнили студенты гр Никульшин Вячеслав Ильина Виктория ПетрГУ 2012.
Источники питания и напряжения и контрольно-измерительные приборы Практикум по основам измерительных технологий.
Транксрипт:

МГУ им. Н. П. Огарева 1 КОМПЛЕКС ИСПЫТАТЕЛЬНОЙ АППАРАТУРЫ серии «АДИП» ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА СИЛОВЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ докладчик: руководитель "Межфакультетской учебной и научно-исследовательской лаборатории "National Instruments" по компьютерным информационно-измерительным и управляющим системам и технологиям", заведующий кафедрой автоматики Николай Николаевич Беспалов Тел./факс: +7 (8342) Мордовский государственный университет имени Н. П. Огарёва Факультет электронной техники Кафедра Автоматики

МГУ им. Н. П. Огарева2 «АДИП» – устройства для испытания СПП и измерения их параметров и характеристик Надежность преобразователей на основе силовых полупроводниковых приборов (СПП), во многом определяется их исходным качеством и стабильностью характеристик в ходе эксплуатации. Надежность преобразователей на основе силовых полупроводниковых приборов (СПП), во многом определяется их исходным качеством и стабильностью характеристик в ходе эксплуатации. Испытательно-измерительные устройства АДИП обеспечивают измерение и определение основных параметров критериев качества СПП с номинальными предельными токами до 5 кА и напряжениями до 8 кВ. Испытательно-измерительные устройства АДИП обеспечивают измерение и определение основных параметров критериев качества СПП с номинальными предельными токами до 5 кА и напряжениями до 8 кВ. Устройства «АДИП» позволяют осуществлять: Устройства «АДИП» позволяют осуществлять: 1) оценку качества СПП на всех этапах их жизненного цикла; 2) подбор СПП для группового соединения в преобразователях; 3) отбраковку потенциально ненадежных СПП. Тел./факс: +7 (8342)

МГУ им. Н. П. Огарева3 Устройства « АДИП-1» предназначены для испытания и измерения параметров ВАХ СПП в состоянии низкой проводимости Технические характеристики : Технические характеристики : 1) амплитуда испытательного напряжения U D(R)RM – (100 – 8 000) В ; 2) ток в закрытом (обратном) состоянии I D(R)RM – (0,03 – 200) мА. Параметры критерии качества СПП в состоянии низкой проводимости Тиристоры и симисторы: Тиристоры и симисторы: 1)повторяющийся импульсный обратный ток I RRM ; 2)повторяющийся импульсный ток в закрытом состоянии I DRM. Диоды: Диоды: повторяющийся импульсный обратный ток I RRM. Тел./факс: +7 (8342)

МГУ им. Н. П. Огарева4 Устройства «АДИП-2» предназначены для испытания и измерения параметров ВАХ СПП в состоянии высокой проводимости Технические характеристики : Технические характеристики : 1) амплитуда испытательного импульса тока I T(F)M – (500 – ) A ; 2) импульсное напряжение в открытом (прямом) состоянии U T(F)M – (0,5 – 5) В. Тел./факс: +7 (8342)

МГУ им. Н. П. Огарева5 Устройства « АДИП-3» предназначены для испытания и измерения параметров силовых тиристоров при включении Технические характеристики: Технические характеристики: 1) амплитуда испытательного импульса тока I T(F)M – (32 – 2 500) A; 2) амплитуда напряжения в закрытом состоянии U DM – (100 – 300) В; 3) амплитуда тока управления I GM – (0,1 – 3) A; 4) диапазон измерения t gd - (0,5 – 10)мкс; 5) диапазон измерения t gt – (1-50) мкс. Тел./факс: +7 (8342)

МГУ им. Н. П. Огарева6 Устройства « АДИП-4» предназначены для испытания и измерения параметров цепи управления силовых тиристоров Технические характеристики : Технические характеристики : 1)Отпирающий ток I GM – (10 – 500) мA ; I GM – (10 – 500) мA ; 2)Отпирающее напряжение U GM – (0,5 – 10) В. U GM – (0,5 – 10) В. Параметры критерии качества СТ по цепи управления: Отпирающий ток управляющего электрода - I GT Отпирающий ток управляющего электрода - I GT Отпирающее напряжение - U GT Отпирающее напряжение - U GT Тел./факс: +7 (8342)

МГУ им. Н. П. Огарева7 Устройство « АДИП-5» предназначены для испытания и измерения параметров СПП при выключении Технические характеристики: Технические характеристики: 1)амплитуда испытательного импульса тока I T(F)M – (160 – 2 500) A; 2) скорость спада тока –di T /dt – (5-50) А/мкс; 3) амплитуда напряжения в закрытом состоянии U DM – 100 В; 4) диапазон измерения t rr – (2-200) мкс; 5) диапазон измерения Q rr – (100 …3000) мкКл; 6) усилие сжатия СПП до 25 кН; 7) температура двухстороннего нагрева СПП до +125 ±5 0 С. Параметры критерии качества СПП при выключении Время обратного восстановления - t rr Время обратного восстановления - t rr Заряд обратного восстановления - Q rr Заряд обратного восстановления - Q rr Тел./факс: +7 (8342)

МГУ им. Н. П. Огарева8 Автоматизированный программно-аппаратный комплекс «АДИП-6» предназначен для испытания СПП и измерения электротепловых параметров и характеристик СПП на предельные токи до 1250А Технические характеристики: Технические характеристики: 1. Измерение переходного теплового сопротивления переход-корпус Zthjc и величины в установившемся тепловом режиме Rthjc. 2. Определение всех основных параметров ВАХ в состоянии высокой проводимости. 3. Хранение информации, статистическая обработка. 4. Возможность отбраковки потенциально ненадежных приборов. 5. Возможность подбора СПП для группового соединения в преобразователях. Устройство реализовано на основе оборудования и программы LabView компании Nathional Instruments Тел./факс: +7 (8342)

МГУ им. Н. П. Огарева9 ДРАЙВЕРЫ УПРАВЛЕНИЯ СИЛОВЫМИ ТИРИСТОРАМИ Драйверы управления предназначены для формирования импульсов тока управления силовыми тиристорами с требуемыми для их надежной работы значениями амплитуды, скорости нарастания и длительности при заданной частоте повторения. Драйверы управления предназначены для формирования импульсов тока управления силовыми тиристорами с требуемыми для их надежной работы значениями амплитуды, скорости нарастания и длительности при заданной частоте повторения. Драйверы выполнены на основе управляемого источника тока, формирующего импульсы тока управления с оптимальными для надежного включения тиристоров в режимах с повышенными значениями скорости нарастания тока di T /dt в открытом состоянии амплитудой I GM 1 А, скоростью нарастания di G /dt 1 А/мкс и длительностью от 10 до 3500 мкс. Драйверы выполнены на основе управляемого источника тока, формирующего импульсы тока управления с оптимальными для надежного включения тиристоров в режимах с повышенными значениями скорости нарастания тока di T /dt в открытом состоянии амплитудой I GM 1 А, скоростью нарастания di G /dt 1 А/мкс и длительностью от 10 до 3500 мкс. Параметры импульса тока управления слабо зависят от параметров цепи управления силовых тиристоров и соединительных цепей длиной до 10 метров. Параметры импульса тока управления слабо зависят от параметров цепи управления силовых тиристоров и соединительных цепей длиной до 10 метров. Вход драйвера имеет либо оптоэлектронную развязку, либо непосредственное соединение с ТТЛ микросхемой. Вход драйвера имеет либо оптоэлектронную развязку, либо непосредственное соединение с ТТЛ микросхемой. Трансформаторный выход драйвера, подключенный непосредственно к управляющему электроду тиристора обеспечивает повышенную помехоустойчивость. Трансформаторный выход драйвера, подключенный непосредственно к управляющему электроду тиристора обеспечивает повышенную помехоустойчивость. Тел./факс: +7 (8342)

МГУ им. Н. П. Огарева10 Предлагается: Разработка автоматизированных программно-аппаратных комплексов для испытания СПП (диодов тиристоров, симисторов и транзисторов) на базе компьютерных технологий. Разработка автоматизированных программно-аппаратных комплексов для испытания СПП (диодов тиристоров, симисторов и транзисторов) на базе компьютерных технологий. Разработка методик и программ для подбора СПП при групповом использовании в преобразователях. Разработка методик и программ для подбора СПП при групповом использовании в преобразователях. Разработка иных испытательных и информационно- измерительных и управляющих программно-аппаратных комплексов и систем на основе программ и аппаратуры "National Instruments". Разработка иных испытательных и информационно- измерительных и управляющих программно-аппаратных комплексов и систем на основе программ и аппаратуры "National Instruments". СПАСИБО ЗА ВНИМАНИЕ! Тел./факс: +7 (8342)