Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники В.С. Першенков ИСПОЛЬЗОВАНИЕ КОНВЕРСИОННОЙ МОДЕЛИ ДЛЯ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ.

Презентация:



Advertisements
Похожие презентации
26июня-2 июля 2010, Пицунда Кафедра Микро- и наноэлектроники В.С. Першенков Дозовые радиационные эффекты в КМОП и биполярных структурах при воздействии.
Advertisements

Выполнила магистрантка Факультета Радиофизики и Компьютерных технологий Ванюшева Наталья Викторовна Научный руководитель: ст. преподаватель кафедры системного.
Артемов И.С., Общие сведения Биполярным транзистором (БТ) называют полупроводниковый прибор, состоящий из трех слоев (эмиттера, базы и коллектора)
Биполярный транзистор Выполнили: Коновалова Кристина Александровна; Коновалова Кристина Александровна; Михайлина Анна Аркадьевна. Михайлина Анна Аркадьевна.
МНОП-транзисторы Салпагрова М. гр Понятие полевого тра-ра Полевые транзисторы : полупроводниковые приборы, работа которых основана на модуляции.
Биполярный транзистор. Процессы в биполярном транзисторе.
Генерация и рекомбинация Генерация – явление возбуждения электрона из V-зоны или примесного уровня, сопровождающееся появлением дырки. Темп генерации обозначается.
Компьютерная электроника Лекция 9. Статические характеристики биполярного транзистора.
Вводный курс Вторичные электромагнитные эффекты в радиоэлектронной аппаратуре при действии импульсного ионизирующего излучения В.Ф.Зинченко, д.ф.-м.н.,
Полевые транзисторы Мытарев А.В. Мытарев А.В. Яковлева Д.А. гр
ПРОЕКТИРОВАНИЕ И МОДЕЛИРОВАНИЕ ЭЛЕМЕНТОВ КНИ КМОП СБИС С ПОВЫШЕННОЙ СТОЙКОСТЬЮ К ДОЗОВЫМ ЭФФЕКТАМ КОСМИЧЕСКОГО ПРОСТРАНСТВА Горбунов Максим Сергеевич НАЦИОНАЛЬНЫЙ.
Белорусский государственный университет Физический факультет Кафедра атомной физики и физической информатики Электрофизические свойства водородосодержащих.
ТРАНЗИСТОР 1.Биполярный транзистор. 2.Как работает транзистор. 3.Схема, демонстрирующая принцип работы транзистора. 4.Типы, параметры и характеристики.
ТИРИСТОРЫ Выполнили : Тимохов Е. Г., Гоголева А. Н., Ламкин Д. С. Преподаватель : Гуртов В. А.
Опыт разработки и проблемы создания единой методики измерений дозовых характеристик высокоинтенсивного импульсного фотонного излучения. Авторы: А.М. Членов,
Транзистор- полупроводниковый прибор с двумя электронно-дырочными переходами, предназначенный для усиления и генерирования электрических сигналов. Используются.
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ПРОВЕРКА ПРИБЛИЖЕНИЙ ДЛЯ ЛАЗЕРНЫХ МЕТОДИК ИССЛЕДОВАНИЙ ОРЭ Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ» А.И. Чумаков 1,2,
Кафедра Микро- и наноэлектроники МИФИ Научная группа «Микроэлектронные Специализированные Измерительные Системы и Датчики» Б.И. Подлепецкий Руководитель.
Разрушение сверхпроводимости магнитным полем. Термодинамический потенциал сверхпроводника. Сверхпроводники первого и второго рода. Неоднородное проникновение.
Компьютерная электроника Лекция 19. Полевые транзисторы.
Транксрипт:

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники В.С. Першенков ИСПОЛЬЗОВАНИЕ КОНВЕРСИОННОЙ МОДЕЛИ ДЛЯ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ЭФФЕКТА НИЗКОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ В БИПОЛЯРНЫХ ПРИБОРАХ

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники 1 План выступления Эффект низкой интенсивности в биполярных приборах Конверсионная модель встраивания поверхностных состояний Инверсная S – образная характеристика Экстракция подстроечных параметров Прогнозирование работоспообности биполярных приборов

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники 2 Эффект низкой интенсивности в биполярных транзисторах Влияние мощности дозы на радационно- индуцированную деградацию коэффициента усиления. Деградация коэффициента усиления значительно возрастает с уменьшением интенсивности ионизирующего излучения.

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Основное положение модели: эффект низкой интенсивности связан с аномальным накоплением поверхностных состояний

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Энергетическая диаграмма границы раздела окисел-полупроводник (SiO 2 -Si), иллюстрирующая конверсию положительного заряда захваченных дырок Q ot 4

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Две группы ловушек: мелкие и глубокие 5

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Зависимость приращения плотности поверхностных состояний или приращения тока базы от интенсивности и времени облучения 6

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Проблема 7 Экстракция параметров модели

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Послерадиационный отжиг 8

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Постоянная времени конверсии глубоких ловушек 9

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Экспериментальные данные 10 E A = 0.48эВ, τ Г0 = 0.18·10 -3 с (NPN BC817) E A = 0.38эВ, τ Г0 = 4.5·10 -3 с (PNP BC807)

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Специфика высокой интенсивности 11

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Глубокие ловушки 12 Использование высокотемпературного облучения для экстракции концентрации глубоких ловушек

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Прогнозирование работы сложных ИМС 1.Экстракция подстроечных параметров. Полное описание S– образной характеристики. 2.Вычисление деградации тока базы для транзистора из состава данной ИМС при заданных условий функционирования на орбите: интенсивность и суммарная доза (возможен поэтапный набор дозы в разных радиационных поясах). 3.Расчет постоянной времени конверсии для получения прогнозируемой деградации тока базы при интенсивности, соответствующей тестовым испытаниям. 4.Расчет температуры облучения, при которой необходимо проведение тестовых испытаний. 13

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Прогнозирование температуры при высокоинтенсивных тестовых испытаниях Экстракция Nг, τ г, E A Расчёт (ΔI б )орбита при интенсивности на орбите Расчёт τ г при тестовой интенсивности (ΔI б )орбита Расчёт (T обл ) тест с использованием τ г = τ г0 ·exp(E A /kT) 14

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники Температура при тестовых испытаниях сложных микросхем 15

Стойкость-2010, 1-2 июня 2010, ФГУП НИИП, Лыткарино Кафедра Микро- и наноэлектроники 16 Спасибо за внимание