Современная зондовая микроскопия

Теоретические основы Обобщенная структурная схема сканирующего зондового микроскопа

Сканирующие зондовые микроскопы Общей чертой всех сканирующих зондовых микроскопов является способ получения информации о свойствах исследуемой поверхности. Микроскопический зонд сближается с поверхностью до установления между зондом и образцом баланса взаимодействий определенной природы, после чего осуществляется сканирование.

Немного истории … STM изображение поверхности монокристаллического кремния. Реконструкция 7 х 7 Цюрих Герхард Биннинг Хайнрих Рёрер

Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) а - промышленная консоль; б - острие иглы. а б Схема работы сканирующего туннельного микроскопа

Режимы работы СТМ: а - в режиме постоянной высоты; б - в режиме постоянного тока аб

СВЕРХВЫСОКОВАКУУМНЫЙ СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП GPI SРM сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп. Области применения: химические и фотохимические реакции, катализ, напыление, полупроводниковые технологии, адсорбция, модификация поверхности ионами, электронами и другими частицами, нанотехнология, атомные манипуляции.

Атомно-силовой микроскоп Важнейшей составляющей AСM (Атомно-силового микроскопа) являются сканирующие зонды – кантилеверы, свойства микроскопа напрямую зависят от свойств кантилевера. Изображение кантилевера NCS16 полученное в лаборатории МГУ физического факультета. Частота собственных колебаний зонда

Атомно-силовой электронный микроскоп (АСМ) В нем регистрируют изменения силы притяжения иглы к поверхности от точки к точке. Деформацию кантилевера регистрируют по отклонению лазерного луча, падающего на его тыльную поверхность, или с помощью пьезорезистивного эффекта, возникающего в самом кантилевере при изгибе;

Зависимость силы межатомного взаимодействия от расстояния между острием и образцом

Атомно-силовой микроскоп

Возможности АСМ Атомно-силовой микроскоп успешно осваивает и профессию литографа. Локальное окисление (анодирование) поверхности, производимое острием атомно-силового или туннельного микроскопа, позволяет формировать различные наноструктуры.

Возможности СТМ

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) Схема ближнепольного оптического микроскопа

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия (СБОМ) Картина дифракции, возникающая при фокусировании света объективом обычного оптического микроскопа. Изображение получено с помощью СБОМ (Интегра Солярис, НТ-МДТ), распределение интенсивности оптического сигнала кодировано псевдоцветом (шкала показана справа).

Лаборатория сканирующей зондовой микроскопии